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X射线膜厚仪不仅具备非接触测量的特性,还能实现极快的测量速度,为生产效率和质量控制带来了提升。一、X射线膜厚仪工作原理基于物理穿透效应利用的是X射线对不同材料的穿透能力差异这一特性来进行测量。当一束单色化的X射线照射到待测样品表面时,部分光线会被吸收或散射,其余则穿过薄膜到达探测器。通过分析透过后的X射线强度变化,结合已知的材料密度和其他参数,即可计算出薄膜的实际厚度。这种方法不依赖于样品的具体形...
2025-09-15
2025-09-12
2025-09-04
2025-09-01
2025-08-25
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