产品分类
Products技术文章/ ARTICLE
X射线膜厚仪不仅具备非接触测量的特性,还能实现极快的测量速度,为生产效率和质量控制带来了提升。一、X射线膜厚仪工作原理基于物理穿透效应利用的是X射线对不同材料的穿透能力差异这一特性来进行测量。当一束单色化的X射线照射到待测样品表面时,部分光线会被吸收或散射,其余则穿过薄膜到达探测器。通过分析透过后的X射线强度变化,结合已知的材料密度和其他参数,即可计算出薄膜的实际厚度。这种方法不依赖于样品的具体形...
2024-11-21
2024-10-24
2024-09-23
2024-08-22
2024-04-22
2024-03-25
2024-02-26
2024-01-26
2023-12-22
2023-11-24
2023-10-23
2023-09-22
2023-08-25
2023-05-26
2023-04-24
2023-03-27
2023-02-21
2023-01-16
2022-12-26
2022-11-25