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X射线膜厚仪不仅具备非接触测量的特性,还能实现极快的测量速度,为生产效率和质量控制带来了提升。一、X射线膜厚仪工作原理基于物理穿透效应利用的是X射线对不同材料的穿透能力差异这一特性来进行测量。当一束单色化的X射线照射到待测样品表面时,部分光线会被吸收或散射,其余则穿过薄膜到达探测器。通过分析透过后的X射线强度变化,结合已知的材料密度和其他参数,即可计算出薄膜的实际厚度。这种方法不依赖于样品的具体形...
2018-09-25
2018-08-01
2018-05-08
2018-04-14
2018-03-05
2018-02-08
2018-01-11
2017-12-08
2017-11-09
2017-10-13
2017-09-04
2017-01-16
2016-11-28
2016-10-29
2016-09-24
2016-08-24
2016-03-21
2016-02-29
2016-02-22
2015-11-30