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Products技术文章/ ARTICLE
X射线膜厚仪不仅具备非接触测量的特性，还能实现极快的测量速度，为生产效率和质量控制带来了提升。一、X射线膜厚仪工作原理基于物理穿透效应利用的是X射线对不同材料的穿透能力差异这一特性来进行测量。当一束单色化的X射线照射到待测样品表面时，部分光线会被吸收或散射，其余则穿过薄膜到达探测器。通过分析透过后的X射线强度变化，结合已知的材料密度和其他参数，即可计算出薄膜的实际厚度。这种方法不依赖于样品的具体形...
2020-06-09
2020-05-27
2020-05-19
2020-04-29
2020-04-24
2020-03-23
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2019-12-26
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