测量方法

HPXRF -高精度X射线荧光光谱法

检测对象

固体，液体，粉末

最佳元素范围

S、Cl、Si、P

测试含量范围

S  0.5ppm-10%；Cl  0.5ppm-10%；Si  1.5ppm-10%;  P  0.5ppm-10%

样品室环境

常压大气

X射线管

30kV max，1mA max，25W max

探测器

高性能fastSDD，分辨率≤125eV

高压电源

30kV max，1mA max，30W max

光学系统

双曲面弯晶， 高效率单色聚焦X射线源

数据处理平台

工业电脑：CPU主频1.5 GHz, 4核; LPDDR4 2GB内存;

64GB闪存; 屏幕尺寸：7寸屏幕像素：800*480 pixels

软件

运行环境：   Linux操作系统

算法优势：基本参数FP法，样品类型适用性强， 且分析结果准确

功能特点：使用简便，傻瓜式操作；功能丰富； 配置灵活

测量时间

30-300S

测量?？?/span>

油品中硫、氯、硅、磷等元素含量，高硫样品中低氯含量

典型元素检出限

S≤0.5ppm，Cl≤0.5ppm，Si≤1.5ppm， P≤0.5ppm

重复性

样品连续测试7次RSD≤10%

工作环境

温度 -5℃ -50℃ ，湿度20% -85%

电源

AC/DC 电源适配器：100-240VAC, 50/60Hz

重量

10.5kg，不含选配件    

外型尺寸(cm)

35 cm (L) x 26 cm (W) x 27 cm(H)