合金元素成分檢測儀_金屬牌號分析儀

天瑞X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。 天瑞X射線熒光光譜儀樣品制備進行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌;化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數(shù)率也不同;成份不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片;對表面不平的樣品要打磨拋光;對于粉末樣品，要研磨至300目一400目，然后壓成圓片，也可以放人樣品槽中測定。對于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面，則可以把試樣用酸溶解，再沉淀成鹽類進行測定。對于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上，用紅外燈蒸干水份后測定，也可以密封在樣品槽中。總之，所測樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份，更不能含有腐蝕性溶劑。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測合金元素成分檢測儀,專門研發(fā)測試合金成分分析.測試過程校準，保證測量精度，內(nèi)置多條曲線，可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行成分分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、金屬牌號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
合金元素成分檢測儀_金屬牌號分析儀性能特點:高效超薄窗X光管
針對合金的測試而開發(fā)的配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性；
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
標準配置：合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的*SDD探測器
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術(shù)指標：測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
應用領(lǐng)域：檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品