X射線熒光光譜儀工作原理介紹 成分檢測分析儀 元素含量測試儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
    用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下圖是這兩類儀器的原理圖。
  X射線熒光光譜儀分析的一般步驟是：選擇分析方法，樣品制備，儀器參數選擇與校準曲線的制作，試樣分析。 
　　SuperQ是Axios系列X 射線熒光光譜分析儀的主操作軟件，控制光譜儀的運行和定性定量分析數據的處理。SuperQ先匯編各測量參數，再依次檢查光學電學條件、校正系數，zui后自動匯編建成定性或定量分析測量程序。 
　　Omnian以全程掃描為定性分析的基礎，用13個合成的參考樣品建立掃描程序獲得的測量強度，以此作為定量分析的依據；適用于分析范圍很寬的固體、粉末和液體試樣的快速無標樣近似定量（半定量）分析。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業生產光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售一體型企業。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測合金元素成分檢測儀,專門研發測試合金成分分析.測試過程校準，保證測量精度，內置多條曲線，可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行成分分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

成分檢測分析儀 元素含量測試儀

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，實現更高的測試效率
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達ppm
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
樣品腔尺寸：460×298×98mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg
移動樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
新型X光管
計算機及噴墨打印機

應用領域

黃銅成分分析，以及銅合金、鋅合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析