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X射线膜厚仪,国产XRF光谱仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。

钕铁硼磁铁电镀层分析仪 1.*的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可测量。 2.上照式设计：实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。 3.自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦。 4.变焦装置算法：可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。 5.小面积测量：小测量面积0.002mm2 6.大行程移动平台：手动XY滑台100*

XULM菲希尔镀层测厚仪菲希尔镀层测厚仪：X射线源和接收器位于测量室的下方，这样可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有用。尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计（C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法*放入测量室。

超薄膜厚测试仪是一种用于测量超薄膜层（通常厚度在纳米至微米级之间）厚度的高精度仪器。随着微电子技术、纳米技术以及半导体产业的快速发展，超薄膜层材料的应用越来越广泛，尤其是在集成电路、光学涂层、薄膜太阳能电池、表面处理等领域中，薄膜的厚度直接影响产品的性能和质量。

毛细聚焦X荧光光谱仪、连接器测厚仪 此系列产品可测量金属准直无法测量的微区，多导毛细聚焦管光学元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以测量微电子设备、高级电路板、连接器、引脚框架和晶片的超微小区域。 可以测量纳米级的镀层，毛细聚焦管能将更多的X射线输出聚焦到样品上，可以敏感的反应镀层纳米级厚度变化。其焦斑小区域上的X射线强度比金属准直系统高出几个数量级。 可以实现更高的测试精度。

全自动镀层测厚仪、膜厚仪仪器简介：XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。产品优势

涂镀层 环保ROHS一体机光谱分析仪 性能优势：1.微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可测量。 4.解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器：S

全自动镀层测厚仪 XTD-200是一款于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

镀层厚度与ROHS分析仪采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法，基于荧光X射线激发的基本原理，从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度，在基于此计算Lachance综合校正系数，然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。、可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。

五金电镀测厚仪 光谱膜厚仪 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动.